Журнал Компьютерра -739   ::   Компьютерра

При такой

плотности размеры одного бита составят

около десяти нанометров. А на подобных

масштабах должны доминировать

поверхностные магнитные эффекты, которые

пока плохо изучены. И без детального

понимания особенностей магнитных свойств

различных материалов вблизи поверхности

инженерам уже не обойтись.

До сих

пор в арсенале ученых не было подходящих

методов исследования атомных слоев под

поверхностью материала. Например, весьма

популярная сканирующая туннельная

спектроскопия позволяет проанализировать

только строение самой поверхности, то

есть одного-единственного верхнего слоя

атомов. Чтобы проникнуть глубже, японцы

реализовали нетривиальную комбинацию

двух известных методов - метода

дифракции Оже-электронов и спектроскопии

поглощения рентгеновского

излучения.

Кванты рентгеновского

излучения с достаточно большой энергией

сначала выбивают электроны из внутренних

электронных оболочек атомов. В

образовавшиеся дырки падают электроны из

внешних электронных оболочек. При этом

избыток энергии от падения уносится за

счет испускания атомом с внешних

электронных оболочек других

Оже-электронов.